All-states measurement method for PDL and PER with a synchronous polarization scrambler
[摘要] This synchronized all-states PDL method using the Agilent N7785B synchronous scrambler shortens total measurement time and removal of the polarization dependence of the setup from PDL and PER results.
下载说明: 上线日期：2012-10-25 | 下载次数：12次 | 文件大小：0.68MB | 文件格式：PDF
相关下载资料
- 文件格式
- 白皮书简介
- 文件大小
- 文件格式：
-
利用ZEMAX软件分析光器件中的PDL
[摘要] 文章简要介绍了常用的偏振相关损耗(PDL)的计算和分析方法, 在此基础上利用ZEMAX 软件的POLARIZATION ANALYSIS(偏振分析) 功能对光器件的PDL进行了分析和计算, 并且与常用数学软件的计算结果和实际器件的测量结果进行了比较, 证明了利用ZEMAX 软件模···
-
上线日期：2013-03-07
下载次数：79次
文件大小：0.27M
- 文件格式：
-
影响偏振相关损耗PDL测量的重要因素
[摘要] 偏振相关损耗 （PDL） 的测量对测量系统中的扰动极其敏感，这些扰动包括光源的不稳定性，连接器的反射，甚至是测试光纤的布局。如果测试装置布置不合理，即使采用高精度的测量设备也可能会出现较大的测量误差或波动。
-
上线日期：2011-03-31
下载次数：42次
文件大小：0.37M
- 文件格式：
-
10G光模块测试
[摘要] 分别介绍了10G光接口模块&测试标准;10G光接口测试需求及解决方案;10G光接口测试常见问题。
-
上线日期：2012-09-24
下载次数：175次
文件大小：7.83M
- 文件格式：
-
比特误码率和波形分析
[摘要] 安捷伦光波产品目录：比特误码率和波形分析,涵盖了在数据中心和云环境中的“比特误码率和波形分析”。
-
上线日期：2013-05-28
下载次数：40次
文件大小：2.63M
- 文件格式：
-
通用光学参数测试
[摘要] 复杂调制、100 Gb/s 传输、新型家用光缆开发、硅光电和集成光学等技术将帮助企业实现上述目标。但是，新技术为高速光电器件与系统设计人员带来了新的测试挑战。您需要灵活的仪器来满足当前和未来的测试需求。
-
上线日期：2013-05-28
下载次数：36次
文件大小：1.31M
- 文件格式：
-
光电/偏振/复杂调制分析
[摘要] 在星座图中，信息在二维极坐标图中显示，表现信号的幅度和相位。星座图显示对应符码时钟时间的 I-Q 位置。这些点通常称为探测决定点，命名为符码。星座图可用于识别幅度失衡、正交误差或相位噪声等。……
-
上线日期：2013-05-28
下载次数：32次
文件大小：3.28M
- 文件格式：
-
Techniques for Higher Accuracy Optical Measurements
[摘要] Learn techniques for high accuracy optical measurements using System Impulse Response Correction.
-
上线日期：2012-10-25
下载次数：20次
文件大小：6.22M
- 文件格式：
-
Understanding The Oscilloscope Jitter Specifi cation
[摘要] Jitter is defined as the unwanted phase modulation of a digital signal, and is considered one of the most important specifications for measu···
-
上线日期：2012-10-25
下载次数：15次
文件大小：0.57M
- 文件格式：
-
Metrology of Optical Advanced Modulation Formats
[摘要] The metrology basics for advanced optical modulation formats are presented.The methods based on a delay line interferometer, a coherent rece···
-
上线日期：2012-10-25
下载次数：15次
文件大小：0.18M
- 文件格式：
-
Techniques to Reduce Manufacturing Cost-of-Test of Optical Transmitters
[摘要] Pressures to reduce costs as data rates rise means manufacturing engineering managers and their engineers must be more creative in how to re···
-
上线日期：2012-10-25
下载次数：12次
文件大小：1.23M
推荐下载
