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  • 面向BTI特征分析的在运行中阈值电压测量
    [摘要] 传统CMOS工艺缩放技术的发展正逐渐逼近极限,迫切需要采用新材料和新器件设计。随着这些新材料和新设计的出现,人们非常关注潜在失效机理,并需要进行更多的可靠性测试。诸如偏温不稳定性(N-BTI和P-BTI)等失效机理需要高速信号源和测量功能才能解析快速恢复效应。通过分析包括在运行中···
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  • 2012-06-18
  • 0.51M
  • 微量法实现Belousov-Zhabotinskii反应
    [摘要] 采用微量溶剂和uv-vis光谱仪实现Belousov-Zhabotinskii反应过程(中间产物出现周期性浓度变化的反应),实验采用丙烯酸水槽,有盖培养皿,高影机,海洋光学的USB4000,振荡反应的观测对象为Ce3+和Ce4+。该系统比传统的电化学观测方法更简单,通过测量振荡反···
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  • 2012-04-17
  • 0.66M
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